半導(dǎo)體分立器件可靠性測試設(shè)備的應(yīng)用

1、前言半導(dǎo)體分立器件可靠性測試設(shè)備是專門用于評估半導(dǎo)體分立器件在各種條件下的可靠性和穩(wěn)定性的工具和系統(tǒng)。這些設(shè)備通過模擬器件在實際使用中可能遇到的各種環(huán)境和電應(yīng)力情況，對器件進行一系列的測試和監(jiān)測，以確定其是否能夠在規(guī)定的時間內(nèi)和特定的條件下正常工作。其主要分為環(huán)境應(yīng)力測試類、電應(yīng)力測試類、其他特殊測試設(shè)備。2、溫控儀表在半導(dǎo)體分立器件可靠性測試設(shè)備的應(yīng)用天津海瑞電子科技有限公司在半導(dǎo)體分立器件可靠性測試設(shè)備生產(chǎn)上主要用于測IGBT模塊，IGBT模塊是一種重要的功率半導(dǎo)體器件，所以在測試過程中對溫度的要求較高，測試原理主要是通過電熱-水冷板板給被測元件快速加熱或冷卻，從而使元件Tc瞬間上升或下降如此反復(fù)循環(huán)（詳見圖1）。圖13、宇電溫控儀表幫助客戶實現(xiàn)的價值半導(dǎo)體測試設(shè)備對溫控器的要求高，且受當(dāng)時芯片漲價，國外溫控器斷貨的影響，客戶前期選用的溫控器控制效果都差強人意，客戶輾轉(zhuǎn)多次找到宇電

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半導(dǎo)體行業(yè)碳化硅長晶爐應(yīng)用案例

物理氣相傳輸法（PVT）是制備碳化硅（SiC）晶體的主流方法之一，PVT法生長SiC單晶，溫度高達2300℃，生長過程需嚴格控制生長溫度梯度，其溫度控制系統(tǒng)為閉環(huán)控制，由紅外測溫儀、溫控器、加熱電源以及加熱器（感應(yīng)線圈）組成。系統(tǒng)框圖：宇電AI系列人工智能調(diào)節(jié)器1、AI-8x9系列2、AI-MODBUS-TCP1-24VDC成功應(yīng)用于國內(nèi)某半導(dǎo)體裝備制造頭部企業(yè)碳化硅長晶爐，該系統(tǒng)溫度的精確控制，儀表兼容多類型輸入/輸出規(guī)格，具備可調(diào)的控制周期及報警功能，通訊兼容RS485及RS232，且可匹配外部TCP模塊實現(xiàn)MODBUS-TCP便捷通訊。溫度控制效果：溫度控制效果：溫度波動≤±0.5℃@2200℃，溫度超調(diào)、穩(wěn)定時間等指標(biāo)均與英國競品水平相當(dāng)，經(jīng)終端客戶驗證，可完全平替國外競品，成功實現(xiàn)國產(chǎn)替代。

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行業(yè)案例 | 宇電多回路溫控器品質(zhì)卓越，滿足半導(dǎo)體制造多樣化測試需求

隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)走入芯片融合時代，工藝和應(yīng)用的復(fù)雜度不斷提升，想要生產(chǎn)出好的產(chǎn)品，“測試先行”尤為重要。測試設(shè)備主要用于半導(dǎo)體制造過程中檢測芯片性能與缺陷，幾乎每一道工藝完成后都要進行，其中高精度溫度控制貫穿于整個測試環(huán)節(jié)的始末。宇電合作伙伴中，江蘇某高端測試儀器和設(shè)備供應(yīng)商，專業(yè)從事光網(wǎng)絡(luò)測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試。自2020年起，激光器芯片老化測試需求激增，對溫控器品質(zhì)和性能的要求更苛刻，一直在尋求激光器老化設(shè)備的理想溫控解決方案。通過對比驗證，宇電AI-7548D71溫控器在控制效果、通訊速度、安全性與穩(wěn)定性方面完全滿足該設(shè)備供應(yīng)商在不同測試場景下的多樣化需求。提升測試結(jié)果的準確性和可靠性?？蛻粼u價：“我們曾在設(shè)備上進行過不同品牌溫控系統(tǒng)的控制測試。結(jié)果顯示，宇電AI-7548D71溫控模塊的控制效果明顯優(yōu)于其他品牌，與國際品牌控溫效果一致?！? 宇電多路溫控器全面提升

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